Iniciaram na segunda-feira (6) e segue até o dia 20 (segunda) as inscrições para o curso de Formação Inicial e Continuada (FIC) em Fundamentos de Metrologia, no campus avançado Xanxerê.

A inscrição deverá ser feita pelo site:
Acessar o link http://ingresso.ifsc.edu.br/portal/principal.php, no período de 06 de fevereiro até às 23h59min do dia 20 de fevereiro de 2012 (horário de Brasília).

Seguir os seguintes passos:
a) efetuar uma nova inscrição;
b) selecionar a cidade onde o curso é oferecido;
c) selecionar o curso;
d) preencher todos os dados solicitados;
e) imprimir o comprovante de inscrição.

Serão disponibilizados computadores conectados à internet de segunda a sexta-feira, para a inscrição de candidatos, no seguinte local e horário:

Campus Avançado Xanxerê
Rua Euclides Hack, 1603, Bairro Veneza. Xanxerê- SC
Fone: (49) 3433-7388
Horário: Das 13h30min às17h30min e das 18h30min às 22h

Serão oferecidas 20 vagas. Caso exceda o número de inscrições, haverá um sorteio para preenchimento das mesmas.

Carga horária: 36 horas
Horário das aulas: terça-feira e quinta-feira das 19h às 22h20.
Pré-Requisitos: Ter no mínimo 18 anos e ser alfabetizado
Seleção: Sorteio

Cronograma:

O edital completo está disponívela no Portal do Ingresso (www.ifsc.edu.br). Em caso de dúvidas, ligue gratuitamente para 0800 722 0250.

Resumo do FIC Fundamentos de Metrologia: A área da Metrologia está diretamente relacionada à qualidade das peças produzidas no setor metalmecânico, pois requer conhecimentos técnicos suficientes para utilização dos instrumentos de medição na busca por resultados confiáveis. Este curso é destinado aos profissionais que trabalham no setor metalmecânico ou áreas afins, que desejam conhecer os Fundamentos de Metrologia, destacando-se o uso correto do paquímetro universal e do micrômetro, ao mesmo tempo que buscam uma qualificação profissional neste setor que está em franca expansão nas indústrias na região da AMAI.

Postado por: Leticia Faria
Fotos: Divulgação